完整的生产测试，无需牺牲空间
满足您的所有生产测试需求，在同一空间内有两条**隔离的宽动态源和测量通道。 每条 40 W 通道提供 6½ 位**分辨率源，在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内，测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
使用 2600B 简化 FET 测试
特点
在同一空间内可有 2 条通道
*宽的电压和电流动态范围
高度准确的 100 µs 脉冲可扩展直流生产测试能力
嵌入式脚本提供****的生产吞吐量
测试脚本处理器 (TSP*) 技术可在 SMU 仪器内嵌入和执行完整测试程序，提供业界**性能。
使用 2600B 系列进行二极管生产测试
特点
消除与 PC 之间耗时的总线通信
**数据处理和流量控制
通用型探头/处理程序控制
系统性能，无主机
TSP-Link* 技术支持扩展多达 64 条通道，支持高速、SMU-per-pin 并行测试（而不使用主机）。 <500 ns 时所有通道同时独立受控。
使用 Keithley 2600B 系列仪器增加多引脚设备的生产吞吐量
特点
支持 <500 ns 通道间同步
可达 32 条或 64 条独立 SMU 通道
随着测试要求变化轻松重新配置
适合生产的**低电流性能
2635B 和 2636B SMU 在** 100 pA 范围内提供 0.1 fA、10-16 分辨率，减少*低电平样本检定烦恼，确保生产成功。
特点
在**电流范围内稳定时间快 7 倍
具有市面上的**低电流分辨率
直接三芯同轴连接简化了设置
学习更多， 获得更多。
源测量单元教程学习中心将关于 Keithley SMU 和其他产品的大量信息都放在一个方便的位置。 我们提供指向与我们所服务的应用和行业相关的各种内容的链接。
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| 型号 | 通道 | **电流源/量程 | **电压源/量程 | 测量分辨率（电流/电压） | 电源 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 2611B | 1 | 10A | 200V | 100fA / 100nV | 200 W | |
| 2601B | 1 | 10A | 40V | 100fA / 100nV | 200 W | |
| 2604B | 2 | 10A | 40V | 100fA / 100nV | 200 W | |
| 2614B | 2 | 10A | 200V | 100fA / 100nV | 200 W | |
| 2612B | 2 | 10A | 200V | 100fA / 100nV | 200 W | |
| 2602B | 2 | 10A | 40V | 100fA / 100nV | 200 W | |
| 2635B | 1 | 10A | 200V | 0.1fA / 100nV | 200 W | |
| 2634B | 2 | 10A | 200V | 1fA / 100nV | 200 W | |
| 2636B | 2 | 10A | 200V | 0.1fA / 100nV | 200 W |
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